Семинар «Современные технологии производства радиоэлектронной аппаратуры»
Уважаемые коллеги!
26 марта 2014 г. Группа компаний Остек приглашает вас принять участие в семинаре «Современные технологии производства радиоэлектронной аппаратуры», который пройдет в городе Ростов-на-Дону.
Основная тема семинара – самые современные технологии, подходы, решения и материалы для производства электроники; будут подробно рассмотрены решения по сборке, пайке, отмывке и защите печатных узлов.
Рассматриваемые вопросы:
- Применение технологических материалов. Современные паяльные материалы. Причины возникновения дефектов и борьба с ними.
 - Технология пайки оплавлением в паровой фазе.
 - Эффективная отмывка печатных узлов. Оборудование, технологии и материалы. Оценка качества.
 - Электрическое тестирование, технологии, оборудование и входной контроль
 - Защита электроники от внешних негативных воздействий. Технологии и материалы.
 - Автоматизированные решения дозирования и нанесения герметика, клеев и компаундов.
 - Методы ручной пайки. Специализированные решения для ручной пайки.
 - Антистатическая защита: обзор стандартов, тестового и измерительного оборудования.
 
Место проведения семинара: г. Ростов-на-Дону, ул. Ульяновская, 54, конференц-зал «Большой»
Участие в семинаре бесплатное.
Семинар будет проходить с 09:00 до 17:00, начало регистрации в 8:45.
Вы можете зарегистрироваться на мероприятие любым из представленных ниже способов:
- по электронной почте info@ostec-group.ru*;
 - по телефону (495) 788-44-44;
 - по факсу: (495) 788-44-42;
 - заполнив форму заявки внизу страницы.
 
*При регистрации по электронной почте и факсу указывайте: название мероприятия, Ф.И.О., должность, предприятие и контактный телефон.
Заявки на участие принимаются до 24 марта 2014 г.
Будем рады видеть вас и ваших коллег в числе участников семинара!
Программа семинара:
|  			
           Время  |  			 			
           Мин.  |  			 			
           Наименование доклада  |  			 			
           Докладчики  |  		
|  			
           08:45 - 9:00  |  			 			
           15  |  			 			
           Регистрация участников. Вступительное слово  |  		|
|  			
           9:00 – 10:00  |  			 			
           60  |  			 			
           Современные паяльные материалы и технологии для поверхностного монтажа. Решение технологических проблем.  |  			 			
           Баев С.В.  |  		
|  			
           10:00 – 10:40  |  			 			
           40  |  			 			
           Современные способы нанесения паяльной пасты.  |  			 			
           Афанасьев В.М.  |  		
|  			
           10:40 – 11:00  |  			 			
           20  |  			 			
           Кофе-брейк  |  			|
|  			
           11:00 – 11:50  |  			 			
           50  |  			 			
           Пайка в паровой фазе. Достоинства и ограничения. Современное оборудование.  |  			 			
           Афанасьев В.М.  |  		
|  			
           11:50 – 12:50  |  			 			
           60  |  			 			
           Электрическое тестирование, технологии, оборудование и входной контроль  |  			 			
           Насонов А.Ю.  |  		
|  			
           12:50 – 13:50  |  			 			
           60  |  			 			
           Обед  |  			|
|  			
           13:50 – 14:40  |  			 			
           50  |  			 			
           Технология отмывки печатных узлов. Работа с промывочными жидкостями, контроль качества отмывки. Стандарты IPC. Контроль отмывочной жидкости. Оборудование для отмывки.  |  			 			
           Баев С.В. Афанасьев В.М.  |  		
|  			
           14:40 – 15:10  |  			 			
           30  |  			 			
           Современные решения для автоматизированного применения клеев, герметиков и компаундов. Современные клеи и компаунды для производства электроники.  |  			 			
           Баев С.В.  |  		
|  			
           15:10 – 15:30  |  			 			
           20  |  			 			
           Кофе-брейк  |  			|
|  			
           15:30 – 16:15  |  			 			
           45  |  			 			
           Методы ручной пайки. Специализированные решения для ручной пайки.  |  			 			
           Евсенейкин А.А.  |  		
|  			
           16:15 – 17:00  |  			 			
           45  |  			 			
           Антистатическая защита: обзор стандартов, тестового и измерительного оборудования.  |  			 			
           Вотинцев А.Л.  |  		
|  			
           17:00  |  			 			
           Подведение итогов. Ответы на вопросы.  |  			||